La solución de Epsilometer para medir las propiedades dieléctricas de los materiales mide materiales de sustrato dieléctrico en frecuencias de 3 MHz a 6 GHz y puede acomodar muestras de láminas de 0,3 a 3 mm de espesor.
Esta solución utiliza una nueva metodología, según el Dr. John Schultz, de Compass Technology, “A diferencia de las tecnologías de análisis dieléctrico anteriores, este nuevo método utiliza modelos computacionales electromagnéticos para invertir la permitividad y la pérdida dieléctricas. Esto representa un avance significativo sobre los métodos convencionales, que utilizan aproximaciones analíticas y están limitados a frecuencias por debajo de 1 GHz «.
La solución Epsilometer incluye R60 VNA con software, dispositivo de medición, software Epsilometer y muestra de calibración.
La solución Epsilometer se ha desarrollado en colaboración con Compass Technology, un proveedor líder de soluciones y sistemas de medición de materiales.
Especificaciones:
– Frequency range: 3 MHz to 6 GHz – Impedance: 50 Ohm
– Sheet thickness 0.3 to 3 mm
– The database is populated up to a permittivity of 25
